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  • CHDF3000型美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀
    CHDF3000型美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀

    更新時間:2021-08-19

    型號:CHDF3000型

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    美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀$n精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—?dú)w功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。自動/無人操作。所有組件都在一個簡易單一窗口界面控制和操作。
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  • CHDF4000型美國MAS毛細(xì)管高分辨納米粒度儀
    CHDF4000型美國MAS毛細(xì)管高分辨納米粒度儀

    更新時間:2021-08-19

    型號:CHDF4000型

    瀏覽量:1652

    美國MAS毛細(xì)管高分辨納米粒度儀$nCHDF4000是基于光散原理的儀器,使用新的技術(shù)對高分辨率的粒度分布(PSD)進(jìn)行測量,包括高粒子檢測靈敏度、動態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析;$nCHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米,真實的PSD數(shù)據(jù);$n通過粒子分離真正的PSD數(shù)據(jù),關(guān)于粒子大小分布的形狀不需要假設(shè);$n自動化操作,通過一個人性化界面即可完成全部操作
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  • ZetaZF400型超聲電聲法Zeta電位儀
    ZetaZF400型超聲電聲法Zeta電位儀

    更新時間:2021-08-19

    型號:ZetaZF400型

    瀏覽量:1424

    超聲電聲法Zeta電位儀可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時甚至可以進(jìn)行滴定操作;
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  • ZetaZF400型美國MAS膠體zeta電位測定儀
    ZetaZF400型美國MAS膠體zeta電位測定儀

    更新時間:2021-08-19

    型號:ZetaZF400型

    瀏覽量:1647

    美國MAS膠體zeta電位測定儀采用專門的電動聲波振蕩技術(shù),該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果,從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品,從而避免了稀釋器材的使用和錯誤(樣品稀釋,Zeta電位將*改變);該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時甚至可以進(jìn)行滴定操作;
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  • ZetaZF400型美國MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測試
    ZetaZF400型美國MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測試

    更新時間:2021-06-24

    型號:ZetaZF400型

    瀏覽量:1434

    美國MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測試 該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時甚至可以進(jìn)行滴定操作;堅固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中;自動滴定法用于簡單的IEP測量;樣品可被強(qiáng)烈攪拌或混合,因此不會產(chǎn)生沉淀物;
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  • ZetaZF400型超聲電聲法Zeta電位分析儀
    ZetaZF400型超聲電聲法Zeta電位分析儀

    更新時間:2022-03-11

    型號:ZetaZF400型

    瀏覽量:1593

    超聲電聲法Zeta電位分析儀$n該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時甚至可以進(jìn)行滴定操作;堅固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中;自動滴定法用于簡單的IEP測量;樣品可被強(qiáng)烈攪拌或混合,因此不會產(chǎn)生沉淀物;
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  • 粒度電聲法Zeta電位分析儀
    粒度電聲法Zeta電位分析儀

    更新時間:2021-08-19

    型號:

    瀏覽量:1748

    粒度電聲法Zeta電位分析儀,Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量;樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量;具有自動電位滴定功能;
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  • CHDF4000型分餾法原液高分辨納米粒度儀
    CHDF4000型分餾法原液高分辨納米粒度儀

    更新時間:2021-11-09

    型號:CHDF4000型

    瀏覽量:1603

    分餾法原液高分辨納米粒度儀,毛細(xì)管流體分離技術(shù)(CHDF)用于測量粒徑在5nm-3μm 范圍內(nèi)膠體的粒度分布(PSD)。
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